Scientific journal
Fundamental research
ISSN 1812-7339
"Перечень" ВАК
ИФ РИНЦ = 1,674

Анашкин П.М., Пивкин О.В.

В России проблема повышения качества продукции предприятий является стратегической. Основные причины этого - межгосударственная и внутренняя отраслевая конкуренция, высокие требования потребителей и необходимость оптимального использования материальных ресурсов. Производство, на котором из-за проблем качества бракуется большая часть продукции или товар не находит спроса у потребителей, не имеет шансов на выживание.

Согласно требованиям стандартов ГОСТ Р ИСО 9000-2001 для систем менеджмента качества, любой процесс требует его мониторинга и измерения, обработки результатов этих измерений с целью выработки управляющих воздействий по качеству.

На ряде предприятий Российской Федерации, изготавливающих светотехническую продукцию, при разработке различных источников света (ИС) и осветительных приборов (ОП) большое значение имеет определение их светотехнических параметров, в частности: сила света, яркость, освещенность, кривая сила света (КСС). В связи с этим, одной из наиболее актуальных проблем, является отсутствие автоматизированных технических средств для сбора и обработки информации. Определение светотехнических параметров ИС и ОП по экспериментальным данным требует значительного времени, что особенно неблагоприятно в случае фотометрирования большого количества различных светильников. Эту задачу можно успешно решать с помощью распределенных систем сбора и обработки информации на основе современной микропроцессорной и коммуникационной техники. Применение микропроцессорных средств, в процессах сбора и обработки информации, позволяет во много раз уменьшить время получения результатов, снизить число операторов, участвующих в измерениях и повысить их точность.

В Мордовском государственном университете имени Н.П. Огарева, г. Саранск, разработан комплекс систем экспериментальных установок, технической реализацией которых, является использование средств на базе микроконтроллеров (МК) семейства AVR фирмы Atmel, которые полностью автоматизируют процесс измерения светотехнических характеристик и построение КСС.

Измерительный комплекс (ИК) построен на современной элементной базе. Программное обеспечение (ПО), совместимо со всеми версиями операционной системы Windows. Главным аппаратным элементом ИК является микросхема МК, которая используется в качестве «интеллектуального устройства» обработки первичной информации.

Управление ИК осуществляется с помощью специализированного прикладного ПО, которое установлено на персональном компьютере. Измеряемый информационный сигнал, принимаемый приемником оптического излучения, усиливается блоком согласования сигналов, и сопоставляется c входным диапазоном встроенного в микроконтроллер АЦП, который используется для измерения поступающих от ИС «данных».

В качестве устройств индикации, может использоваться 7-сегментный жидкокристаллический индикатор (ЖКИ) и (или) монитор ПК. В ИК реализованы интерфейсы связи с ПК по шинам: RS-232 (COM-port) [1] и I2C(LPT-port) [2]. Данные «перекачиваются» на ПК, открываются в специализированных программах, которые позволяют строить графики КСС и обрабатывать результаты измерений. Прикладное программное обеспечение установок написано в Borland Delphi 7.

Очевидно, что объективная оценка сложных исследуемых объектов и процессов в светотехнике невозможна без автоматизированных систем, значительно упрощающих сбор и обработку информации.

СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ:

  1. Пивкин О.В., Тайров М.Ю. Программа для организации обмена данными между автоматизированными техническими средствами на базе микроконтроллеров и персональным компьютером // Материалы ХIнаучной конференции молодых учёных, аспирантов и студентов Мордовского государственного университета имени Н. П. Огарёва: в 3 ч. Ч. 3: Технические науки / сост. О. В. Бояркина; отв. за вып. В. Д. Черкасов. - Саранск: Изд-во Мордов. ун-та, 2006. - 168 с. С.59-60.
  2. Пивкин О.В. «Data_Reader чтение данных из автоматизированного устройства сбора данных по шине I2C» // Инновации в науке и образовании. Январь 2007, №1(24), 32 с. С.14.